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施耐德变频器中的寸动是什么意思

　　施耐德变频器中的寸动意思是：控制信号可以按一定规律断续的驱动电机动作，电机严格按照控制信号的动停指令动作，停机期间电机不做惯性转动。就像动一寸就停的样子。
　　

　　施耐德变频器全称为“施耐德交流变频调速器”，是由法国施耐德电气集团研发、制造和销售的知名变频器品牌。主要用于控制和调节三相交流异步电机的速度，以其稳定的性能、丰富的组合功能、良好的动态特性、超强的过载能力以及无可比拟的灵活性，在变频器市场占据着重要的地位。广泛应用于各工业领域，尤其在电梯、纺织、机床、起重运输和港口等行业。

　　故障
　　1.过流
　　过流故障可分为加速、减速、恒速过电流。其可能是由于变频器的加减速时间太短、负载发生突变、负荷分配不均，输出短路等原因引起的。这时一般可通过延长加减速时间、减少负荷的突变、外加能耗制动元件、进行负荷分配设计、对线路进行检查。如果断开负载变频器还是过流故障，说明变频器逆变电路已环，需要更换变频器。
　　2.过载
　　过载故障包括变频过载和电机过载。其可能是加速时间太短，电网电压太低、负载过重等原因引起的。一般可通过延长加速时间、延长制动时间、检查电网电压等。负载过重，所选的电机和变频器不能拖动该负载，也可能是由于机械润滑不好引起。如前者则必须更换大功率的电机和变频器；如后者则要对生产机械进行检修。
　　保养
　　1、在设计、安装、使用变频器时一定要遵从变频器使用说明书的指导；
　　2、各电气设计人员，现场电气调试人员可以在此基础上完善此变频器参考。
　　（1）施耐德变频器应该是进入中国市场较早的一个品牌，所以有些老的产品象施耐德变频器, 施耐德变频器仍有大量的用户在使用，我们先就这两个系列产品的常见故障做一分析。
　　（2）施耐德变频器我们最常见的故障就是通电无显示，该系列变频器的开关电源采用了一块UC2842芯片作为波形发生器，该芯片的损坏会导致开关电源无法工作，从而也无法正常显示，此外该芯片的工作电源不正常也会使得开关电源无法正常工作。
　　（3）施耐德变频器我们较常见的故障主要有驱动电路的损坏，以及IGBT模块的损坏，驱动电路是由一对对管去驱动IGBT模块的，而这对管也是最容易损坏的元器件，损坏原因常由于IGBT模块的损坏，而导致高压大电流窜入驱动回路，导致驱动电路的元器件损坏。
　　（4）施耐德变频器，我们经常会碰到的故障现象有F008(直流电压低)，由于是直接通过电阻降压来取得采样信号，所以故障F008的出现主要是由于采样电阻的损坏而导致的。
　　（5）施耐德变频器F025,F026,F027,关于输入相缺失的报警，故障原因一是由于6SE70系列本身带有输入相检测功能，输入检测电路的损坏会导致输入缺相报警，如排除此故障原因，报警信号还不能消除，那故障很有可能就是CU板的损坏了。

原子力显微镜方面的，求大神翻译一下，万分感谢。

原子力显微镜的基本原理是：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触，由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。利用光学检测法或隧道电流检测法，可测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化，从而可以获得样品表面形貌的信息。下面，我们以激光检测原子力显微镜（Atomic Force Microscope Employing Laser Beam Deflection for Force Detection,Laser-AFM）——扫描探针显微镜家族中最常用的一种为例，来详细说明其工作原理。 　　如图1所示，二极管激光器（Laser Diode）发出的激光束经过光学系统聚焦在微悬臂（Cantilever）背面，并从微悬臂背面反射到由光电二极管构成的光斑位置检测器（Detector）。在样品扫描时，由于样品表面的原子与微悬臂探针尖端的原子间的相互作用力，微悬臂将随样品表面形貌而弯曲起伏，反射光束也将随之偏移，因而，通过光电二极管检测光斑位置的变化，就能获得被测样品表面形貌的信息。 子力显微镜——原理图
　　在系统检测成像全过程中，探针和被测样品间的距离始终保持在纳米（10e-9米）量级，距离太大不能获得样品表面的信息，距离太小会损伤探针和被测样品，反馈回路(Feedback）的作用就是在工作过程中，由探针得到探针-样品相互作用的强度，来改变加在样品扫描器垂直方向的电压，从而使样品伸缩，调节探针和被测样品间的距离，反过来控制探针-样品相互作用的强度，实现反馈控制。因此，反馈控制是本系统的核心工作机制。本系统采用数字反馈控制回路，用户在控制软件的参数工具栏通过以参考电流、积分增益和比例增益几个参数的设置来对该反馈回路的特性进行控制。

化工方面原子力显微镜方面的，求大神翻译，万分感谢

这个AFM是不是就是你提到的“化工原子力显微镜”？（文章中没有一处出现完整名称因为你从第4页还是9页截取的）

Table 2.2提到AFM几种工作模式：1.Friction Force Mode: 在探测尖端与物体表面接触时施以侧力以使悬臂弯曲。这个被记录到的弯曲力就是探测尖端与物体表面的摩擦力.2.Tapping Mode: 用压电推进器里的任意一种频率使之与悬臂一起共振,探测尖端在扫描物体表面同时可以生成振幅频率和相位的变化图。3.Noncontact Mode:这种模式与tapping mode相同，都是用压电推进器与悬臂共振。振幅，频率和相位会被记录。这种方法在引导某些探测尖端（偏压或是磁性)时用途及其突出.这种转导模式可被用于描绘穿过物体表面磁力或是电力的图像.

许多在表2.2里提到的力都有很大的值域范围，于是它们在距离改变时不会很快减少（但是在电流隧穿时不同）。所以，AFM的敏感度远远小于STM. 这就导致AFM的分辨率普遍不如STM(大约差几纳米或是数十纳米）。原子分辨率已经在一些特殊事例中被获得.

化学力可以同样被AFM探测到。这就要求探测尖端必须要有已知化学成分.许多悬臂由Si3N4构成.裸Si3N4不适用于探测化学力因为它们很容易被腐蚀.然而，可以用一些手段改变探测尖端使之含有已知化学成分. 在探测尖端外部可以覆盖一层Au, Alkanethiol 分子和自我组装的技术（详见第5章）能被用于转移那些终止分子和多种官能团（？）到探测尖端. Silica spheres的附属物能同样被完成（被转移？）。Silica是一种在多种有机和生物分子上的多用酶，可以被用于当探尖保护帽. Takano(等多人）已经评论了许多关于探尖修改方面的文献.

Lieber和他的伙伴已经找到探尖修改的其他有前景的方案。他们使用催化方式在悬臂上制造出carbon nanotubes。 Nanotube给AFM带来2个优势。1，探尖化学成分。2，nanotube的高aspect ratios能增大分辨率,尤其针对那些物体表面的狭小深长的缺口。传统AFM探尖半径30-50nm,nanotube半径仅有9nm（减少了一些不必要的误差）。

一旦探尖被进行精心修改后，物体表面分子的活动状态就可以被研究到。这开拓了许多领域的可能性，特别是在生物化学和生物医学的领域。因为测力的化学成分探尖可以具体到某种已知元素，这些被描绘出的化学力图像可以被用于勾绘生物酶成分。

注：不知道这里所指的"substrate"是酶还是培养基，你学化学应该知道silica(硅）的用途。Silica后面我翻译为"酶",如果是培养基，那么最后一句话里的“酶”也是培养基。